محصولات

جذب اتمی
بررسی اجمالیبازگشت به بالا

دستگاه جذب اتمی (Atomic Absorption Spectrophotometers)

از سال 1968 که شرکت شیمادزو اولین دستگاه طیف سنج جذب اتمی خود را معرفی کرد، این شرکت تا کنون سردمدار حوزه‌ی تشخیص ترکیبات غیرارگانیک بوده‌است.
آخرین دستگاه این شرکت دستگاه AA-7000 است. سیستمی انعطاف پذیر با بالاترین حساسیت که می‌تواند با توجه به نیاز و پسند کاربر، به صورت یک دستگاه تک منظوره‌ی ارزان قیمت و یا یک دستگاه تمام اتوماتیک همه منظوره عرضه شود. AA-7000 دارای مشخصات ایمنی متنوعی است و اولین دستگاه طیف سنج جذب اتمی است که قابلیت اطفاء خودکار برای آن تعبیه شده است تا در هنگام تشخیص زمین لرزه از خطرات جلوگیری کند. نرم افزار WizAArd نیز توسعه یافته و می‌تواند به CLASS-Public Agent متصل شود تا مطابقت لازم با FDA 21 CFR Part 11 را فراهم کند.

عملکردبازگشت به بالا

اطلاعات در حال بارگذاری است...

مشخصات فنیبازگشت به بالا

اطلاعات در حال بارگذاری است...

کاتالوگبازگشت به بالا
AA-7000 Atomic Absorption Spectrophotometer

برای مشاهده و دانلود کاتالوگ روی آن کلیک کنید.

AA-6200 Atomic Absorption Spectrophotometer

برای مشاهده و دانلود کاتالوگ روی آن کلیک کنید.

نشر پلاسما
بررسی اجمالیبازگشت به بالا

دستگاه نشر پلاسما (Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectro)

ICP-AES محلول‌های نمونه را داخل پلاسما اسپری می‌کند که این پلاسما با استفاده از سیم پیچ و جریانی با فرکانس بالا تولید می‌شود. انرژی گرمایی تولید شده عناصر نمونه را تحریک کرده و نور تولید می‌کند. طیف سنج تعبیه شده این نور را به طیف‌های ویژه‌ی عناصر سازنده تفکیک می‌کند و با توجه به شدت طیف، نوع عنصر و مقدار آن را در نمونه مشخص می‌کند. ICPE-9800 یک دستگاه چند کاره‌ی پرسرعت است که به یک CCD یک اینچی مجهز شده‌است؛ تا نویز را کاهش دهد. نرم افزار ICPEsolution نیز برای آن تهیه شده‌است.

عملکردبازگشت به بالا

اطلاعات در حال بارگذاری است...

مشخصات فنیبازگشت به بالا

اطلاعات در حال بارگذاری است...

کاتالوگبازگشت به بالا
ICPE-9800 Multi type ICP

برای مشاهده و دانلود کاتالوگ روی آن کلیک کنید.

ICPS-8100 Twin Sequential ICP

برای مشاهده و دانلود کاتالوگ روی آن کلیک کنید.

ICPS-7510 Sequential ICP

برای مشاهده و دانلود کاتالوگ روی آن کلیک کنید.

EDX و XRF
بررسی اجمالیبازگشت به بالا

دستگاه های XRF و EDX
(X-Ray Fluorescence Spectrometers)

عملکرد این دستگاه‌ها براساس تابش پرتوهای X-Ray به نمونه مورد نظر و اندازه‌گیری طول موج و یا انرژی اشعه ایکس ثانویه تولید شده از نمونه می‌باشد. این سیستم قادر به اندازه‌گیری عناصر تشکیل دهنده‌ی نمونه آنالیز کیفی و غلظت هریک از ترکیبات تشکیل دهنده‌ی نمونه آنالیز کمی می‌باشد. از مزایای کار با این دستگاه آنالیز نمونه‌ها بدون از بین رفتن و هر گونه تغییر در نمونه و عدم اتصال نمونه با دستگاه می‌باشد. از این روش در طیف گسترده‌ای از نمونه‌ها بدون در نظر گرفتن فاز نمونه جامد، مایع، به صورت پودر یا غیره استفاده می‌شود. کمپانی شیمادزو دو نوع از این سیستم‌ها را ارائه نموده است. سیستم‌های جدا کننده‌ی طول موج، با قابلیت کشف مقادیر اندک مواد، و سیستم‌های جداکننده‌ی انرژی با حجم کم و قابلیت آنالیز سریع نمونه

عملکردبازگشت به بالا

اطلاعات در حال بارگذاری است...

مشخصات فنیبازگشت به بالا

اطلاعات در حال بارگذاری است...

کاتالوگبازگشت به بالا

Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometers

EDX-720/800HS Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer

برای مشاهده و دانلود کاتالوگ روی آن کلیک کنید.

EDX GP/LE Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer

برای مشاهده و دانلود کاتالوگ روی آن کلیک کنید.

EDX-7000/8000 Energy Dispersive X-Ray Fluorescence spectrometer

برای مشاهده و دانلود کاتالوگ روی آن کلیک کنید.

Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometers

XRF-1800 Sequential Analyzer

برای مشاهده و دانلود کاتالوگ روی آن کلیک کنید.

MXF-2400 Simultaneous Multiple Element Analyzer

برای مشاهده و دانلود کاتالوگ روی آن کلیک کنید.

XRD
بررسی اجمالیبازگشت به بالا

دستگاه XRD
(X-Ray Diffractometers)

وقتی یک نمونه تحت تابش‌های ایکس قرار می‌گیرد، مجموعه‌ای از انواع سیگنال‌ها حاصل می‌شوند. از میان این سیگنال‌ها، پراش‌های اشعه‌ی ایکس وضعیت بلوری نمونه را آشکار می‌کنند. آنالیز این پراش‌ها امکان شناسایی ساختار بلوری نمونه را فراهم می‌آورند. دستگاه XRD با اندازه‌گیری اشعه ایکس بازتابی از نمونه‌های پودری قادر به شناسایی اجزا تشکیل دهنده‌ی نمونه‌ها و تعیین غلظت آنها می‌باشد. به عنوان مثال، از این دستگاه برای تعیین دقیق ثابت شبکه، سایز کریستالیت، اعوجاج شبکه و یا درجه‌ی بلوری شدن سیلیسیک اسید، آزبست آزاد شده با آنالیز کمی یا کیفی و همچنین آنالیز عددی منحنی پراش اشعه‌ی ایکس استفاده می‌شود. علاوه بر این، کاربردهای جانبی این دستگاه، مشاهده‌ی تغییرات در ساختار بلوری در اثر تغییرات دما و یا اندازه‌گیری Residual Stress می‌باشد.

عملکردبازگشت به بالا

اطلاعات در حال بارگذاری است...

مشخصات فنیبازگشت به بالا

اطلاعات در حال بارگذاری است...

کاتالوگبازگشت به بالا
XRD-6100 Vertical Goniometer type

برای مشاهده و دانلود کاتالوگ روی آن کلیک کنید.

XRD-7000 Horizontal Goniometer type

برای مشاهده و دانلود کاتالوگ روی آن کلیک کنید.